「Nano-inXider（ナノインサイダー）は、既存の特性評価機能を補完するツールとして必要です。 非常に使いやすく、用途の広い製品です。 SAXSデータと同時にWAXSデータを収集できることは、間違いなく大きな利点です。 機器はモジュール機能を備えているので、幅広いサンプルを研究することが可能になり、これは、さまざまなニーズを抱えている多様なユーザーに大きな利点を提供します。」
ラム・イェン・ミン教授（シンガポール南洋理工大学工学部材料科学エンジニアリング）
研究を加速します。
Nano-inXider（ナノインサイダー）は、サンプルが固体、液体、ゲル、粉末、薄い膜などいかなる形態でも、ナノ構造に関するデータを取得します。
以下、アプリケーションの事例です。
- 粒径が数ナノメートルから250nm以上までの範囲
- 液晶、ブロック共重合体、ナノ・ドラッグデリバリーシステムなどにおける、自己組織化材料の中間相分析
- 界面活性剤、溶液中のタンパク質、ヒドロゲルなどの生体材料のナノ構造
- 応力または温度を変化させながらの半結晶性ポリマーの結晶化率とラメラ構造
- 繊維とフィルムの配向分析
主な特長と機能
特長と機能についての詳細
サンプルからダイレクトに結果を取得
Nano-inXider（ナノインサイダー）のスマートデザインにより、サンプルをチャンバー内に配置するだけで充分です。 すぐに結果が得られます。 シンプルで迅速。
サンプル
シンプル。 サンプルをチャンバー内に配置するだけで充分です。 ユーザーの操作を必要とせず、装置は自動で調整されます。
測定
データの収集作業は全自動で高速で行われます。 X線散乱データは、ユーザー・キャリブレーションを必要とせずに自動的に正常化されます。 独自の固定式デュアル検出器を搭載しており、完全に自動化された装置に組み込まれており、ソフトウェアによって実行されます。
解析
機器によって瞬時に表示される正確な散乱データを、迅速なサンプルフィードバックに、またはXSACTソフトウェアを使用する詳細分析にリアルタイムで使用できます。 幅広い分析機能の選択肢が利用可能なことに加え、ほんの数回のクリックで、迅速なナノ構造パラメータが提供されます。
レポート
XSACTソフトウェアは、ドラッグ＆ドロップで他の文書に容易にエクスポートしたりファイルとして保存できる、高品質のグラフと図を提供します。
時間の節約
Nano-inXider（ナノインサイダー）は、迅速な結果と明瞭な解析を提供します。 使いやすさが特長です。 そのスマート設計は、X選散乱の専門家、材料科学の識者や技術者に、迅速な曲線の理解を保証します。 Nano-inXider（ナノインサイダー）は、完全リモート操作機能と自動調整機能により、人的エラーを最小限に抑え、高い再現性と測定トレーサビリティを保証します。 オープンアクセス式のラボに最適な装置です。
サンプルから迅速に結果を取得できるNano-inXider（ナノインサイダー）ソフトウェアの詳細をご覧ください。
Nano-inXider（ナノインサイダー）自動ワークフロー
Nano-inXider（ナノインサイダー）データ収集ソフトウェアは、次のような対話式でユーザーフレンドリーなインターフェイスを備えています。
- 進行中の取得からの、2Dおよび1Dデータのライブビュー
- 機器の自動調整
- 測定のトレーサビリティ
ユーザーの操作なしに、すべてのデータ処理が自動ワークフローにより実施されます。
- 2D画像から1D曲線へのデータ換算
- 絶対強度の正規化
- 周囲の寄生散乱の影響を低減する、宇宙放射線の自動削減
正確で高ダイナミックレンジの測定
科学とデータの解釈にフォーカスし、信頼のおけるデータを取得します。
Nano-inXider（ナノインサイダー）は、サンプルから散乱された低い 強度信号と共に、サンプルを透過する強力な直接ビームを測定することにより、高いSN比のデータを取得します。 画期的なビームストップレスデータ収集によって達成された直接ビーム測定は、自動データ処理を可能にし、非常に高い精度の絶対強度で表示します。 クリーンビーム技術の実装により、低強度の信号の同時検出が可能になりました。 強度収集のダイナミックレンジが高いと、以下のように、データ品質に直接に影響を与えます。
- 散乱強度の弱いサンプルからの、低強度散乱信号の検出を可能にする
- 粒子数、モル質量、濃度、比表面積などの絶対量パラメータへのアクセス
- ユーザーデータ処理を必要とせずに、大サイズの寸法情報を検出
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高ダイナミックレンジ測定のためのクリーンビーム技術
高度なコンポーネントと機器設計の分野で、15年におよぶ研究開発結果を統合するNano-inXider（ナノインサイダー）は、機器によって生成される低寄生散乱とサンプル上の高X線束の最適なバランスを実現します。 クリーンビーム技術には、次の主要コンポーネントと機能が組み込まれています。
- 特許取得済みの単一反射多層膜光学系に結合された密閉型マイクロフォーカスX線源（30 W）
- 特許取得済みの電動式低散乱コリメーション
- 光学機器から検出器センサーまで全領域が真空環境
- 効率的で低ノイズのハイブリッド・ピクセル・フォトン・カウンティング検出器
- ウィンドウレスSAXS検出器
高品質データのためのビームストップなしの収集
Nano-inXider（ナノインサイダー）は、ビームストップなしでSAXSを測定し、サンプルを透過した直接ビームを、散乱信号とともに非常に低い強度レベルまで同時に収集します。 このような高ダイナミックレンジのデータ収集は、画期的なビームストップなしのデータ収集によって可能になります。
ダイレクトビームは測定全体にわたって記録され、正確な絶対強度の正規化を取得するために使用される正確な透過率測定を可能にします。 さらに、測定された直接ビームプロファイル（解像度機能）がデータ解析に統合されているので、結果の品質が向上します。 Xenocsのビームストップなしのデータ収集は、サンプルに応じた自動 qmin 決定を統合し、ビームストップエッジからの寄生散乱がないため、低 q での高品質データを実現します。
宇宙放射線の削減
周囲の寄生散乱の影響を低減する、宇宙放射線の自動削減。
原子スケールからナノスケールまで同時
SAXSとWAXSの測定を繰り返す必要はありません。1回の照射で2つの測定が可能です。
Nano-inXider（ナノインサイダー）は、1回の照射で原子スケール情報とナノ構造を同時に検出する、スマートなデュアル検出器を搭載しています。 フットプリントが小さい縦型デザインにより、大きな特性寸法を測定するためのサンプルから検出器までの距離が長い光学系を実現しています。 このような構成から、次のような利点が得られます。
- 1回の照射で、原子スケール情報とともにナノ構造に関する情報が得られます。 実験を繰り返す必要はありません。
- SAXSとWAXSで同量のサンプルが分析されるため、不均一なサンプルについても明確なデータが提供されます。
- サンプル構造は、原子スケールとナノスケールの両方で同時に正確にプローブされます。これは、「その場」観察に必須です。
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SAXSとWAXSを同時に使用できるデュアル固定検出器の設計
Nano-inXider（ナノインサイダー）では、サンプルと検出器が固定されます。 オプションのWAXS検出器では、SAXS検出器から2Ɵ= 60°までの散乱範囲をシームレスに拡張します。 このような画期的な縦型デザインには、独自の利点があります。
- 非常に使いやすいので、誤った設定を選択するリスクはありません。
- SAXSとWAXSがオーバーラップするqレンジでも強度変化のないシームレスな統合データが得られます。
- サンプルから検出器までの距離をキャリブレーションまたは調整する必要はありません。
- 原子スケールとナノスケール構造が同時にプローブされるので、「その場」観察に明確なデータが収集されます。
異方性サンプルまたは繊維の方位角範囲を向上させるための仮想検出器
繊維や配向フィルムなどの異方性サンプルの場合、Nano-inXider（ナノインサイダー）には異方性散乱を取得するサンプル回転ステージが装備されています。 自動取得には、以下のステップが含まれます。
- 連続照射中のX線ビームの周囲のサンプルステージの回転
- 取得した画像の自動マージ
- 最終的な2D画像を、高い方位角範囲で表示（すべての機器の q 範囲が200°以上、つまり、 2Ɵ= 60°まで）
低い所有コスト
ナノスケール情報を毎日取得して、材料プロセスを改善したり、実験モデルを検証できます。
- 高い投資収益率
- 縦型のデザインなので、ラボ内に容易に設置することができます
- 技術者が容易にアクセスできます
- ハイスループットで、毎日使用できます
- 環境への影響がほとんどありません
Nano-inXider（ナノインサイダー）の所有コストが低いのは、コンパクトで運用コストが低いためです。
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コンパクトな機器
- フットプリント<1×1m²
- 重量≈520kg
- 独立タイプ
- ステージは水平であり、サンプルの取り付けが容易
低い運用コスト
- 700Wという低い平均消費電力
- 機器の2年間保証
- 3年間保証付きメンテナンスフリーX線源
- シンプルで堅牢な構造
